Chroma Model 58173-FC LED 覆晶型全光通量自动测试系统
2016-03-18
Chroma Model 58173-FC LED 覆晶型全光通量自动测试系统
硬体设备
半自动化 LED wafer/chip 点测设备
漏电流测试模组
电源量测单元
光学测试模组
ESD 测试模组 (选配)
Chroma Model 58173-FC LED 覆晶型全光通量自动测试系统为针对覆晶型(Flip Chip) LED开发的半自 动点测设备。特殊的无钻孔玻璃平台设计使得收光路径上无任何干涉，因而达到更加精 准的量测。
延用致茂研发的高速精准的LED全光通量的量测方式 ，这种创新的量测方式不仅比传统 方式收集更多的LED部分光通量，也明显的改善 提升了量测准确度。
在光学量测方面，主波长、峰波长、色温等均可 透过致茂独特的光学设计与元件取得精确且稳 定快速之数据；在电性测试方面，58173-FC 则 具备完整之电源量测单元，无论顺向电压、漏电 流、逆向崩溃电压等 LED 电性特性，均可于一 次满足使用者的测试需求。
58173-FC将Prober和Tester完全整合，搭配弹性 调整的软体操作界面及最佳逻辑演算法使得生产 效益大幅提升 ；完善的量产测试统计报表及分 析工具可以让使用者用轻松掌握生产状况。长沙艾克赛普仪器设备有限公司作为台湾Chroma公司湖南区域的总代理，以下为长沙艾克赛普仪器设备有限公司为您简单介绍Chroma Model 58173-FC LED 覆晶型全光通量自动测试系统的技术参数及产品特点，如果您想对Chroma Model 58173-FC LED 覆晶型全光通量自动测试系统有更多的了解，欢迎致电长沙艾克赛普仪器设备有限公司，联系电话：0731-84284278 84284378。更多产品信息欢迎点击：www.hncsw.net。长沙艾克赛普仪器设备有限公司。
Chroma Model 58173-FC LED 覆晶型全光通量自动测试系统主要特色：
提供全方位电性测试 (200V/2A) ，可满足HV及HP测试
Chroma大面积光侦测器(量测角度可达148度)
半自动精密LED wafer/chip点测设备
特殊无钻孔真空平台设计
特制Edge Sensor具有点测针压稳定，无疲乏与针压变动问题
独特萤幕直觉式调针方式
机械视觉定位系统，缩短人工操作时间
Prober与Tester整合，效益大幅提升
自动抽测功能
广泛的芯片尺寸应用(满足Chip Size 7~120 mil测试)
弹性调整的软体操作界面
快速芯片扫描系统
自动破片扫描演算法
遮光罩设计，杜绝背景光干扰
即时显示点测资料分布图
完善的量产测试统计报表及分析工具
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